O caminho mais próximo entre a tecnologia de ponta dos laboratórios de pesquisa e o campo, certamente é traçado através das sementes de alta qualidade que vem sendo desenvolvidas para as mais variadas culturas. Mas para assegurar que toda essa tecnologia seja entregue ao produtor, é preciso testar, e muito, cada lote de sementes. E até mesmo antes disso, durante o processo de desenvolvimento de cultivares, muito se testa e avalia até chegar a um resultado final.
É preciso avaliar qualidade, aspectos fisiológicos, morfológicos e moleculares das sementes e o maior desafio está em realizar a análise deste complexo organismo vivo, protegendo sua integridade. Para isso, são utilizados métodos não invasivos de análise, que garantem a possibilidade de analisar cada semente individualmente, sem causar alterações em sua estrutura, composição química ou atividade metabólica, ou seja, a semente é mantida nas mesmas condições antes de ser realizada a análise. Muito se evoluiu nos últimos anos sobre a análise das sementes, mas no Brasil ainda temos um longo caminho para que os avanços já existentes sejam amplamente utilizados pela indústria sementeira.
O pesquisador e Coordenador do Comitê de Tecnologias Avançadas da ISTA – International Seed Testing Association -, Bert Van Duijin, estará no país para discutir os “Avanços tecnológicos na avaliação da qualidade de sementes”. A palestra será proferida durante a abertura do XX Congresso Brasileiro de Sementes, que acontece de 7 a 10 de Agosto, em Foz do Iguaçu.
Segundo Bert Van Duijin, os avanços vão além, “os dados obtidos sobre a semente podem ser cruzados com a informação sobre seu desempenho na germinação e formação de plântulas”. Desta forma, é possível correlacionar diretamente o estado do embrião (e de toda a semente) com o resultado apresentado na germinação e na formação de plântulas. “Essas tecnologias podem fornecer ferramentas para melhorar os métodos e protocolos de teste da qualidade das sementes”, informa.
Análise de Imagens e Qualidade de Sementes
Participam do painel a profª Dra Maria Laene de Carvalho, da Universidade Federal de Lavras, abordando o “Uso da análise de imagens na caracterização de sementes e plântulas” e o prof. Dr. Francisco Guilhen Gomes Júnior, da USP/ESALQ, discutindo o uso de “Microtomografia de Raios X e imagem por ressonância magnética para análise não destrutiva de sementes”.
O painel acontece na quinta-feira, 10 de agosto, às 8h30. Para os interessados em participar do Congresso, o prazo para se inscrever antecipadamente, garantindo desconto especial, encerra dia 26/07. Após essa data, as inscrições no local estarão sujeitas à disponibilidade de vagas.
Fonte: Agrolink
